2024自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)行業(yè)市場(chǎng)需求分析、趨勢(shì)分析

• 吳亞楠 2024年3月14日 來(lái)源：互聯(lián)網(wǎng) 346 15
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隨著電子制造、半導(dǎo)體、平板顯示等行業(yè)的快速發(fā)展，對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率的要求越來(lái)越高。AOI設(shè)備作為一種高效、準(zhǔn)確的檢測(cè)手段，受到了這些行業(yè)的廣泛關(guān)注和采用。

自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)行業(yè)的發(fā)展呈現(xiàn)出穩(wěn)步上升的趨勢(shì)，其背后的推動(dòng)力主要來(lái)自于技術(shù)進(jìn)步、市場(chǎng)需求增長(zhǎng)以及應(yīng)用領(lǐng)域的拓展。技術(shù)進(jìn)步是驅(qū)動(dòng)AOI行業(yè)發(fā)展的關(guān)鍵因素。

隨著計(jì)算機(jī)視覺(jué)、機(jī)器學(xué)習(xí)、深度學(xué)習(xí)等技術(shù)的快速發(fā)展，AOI設(shè)備在圖像識(shí)別、缺陷檢測(cè)等方面的能力得到了顯著提升。這使得AOI設(shè)備能夠更快速、更準(zhǔn)確地檢測(cè)出產(chǎn)品缺陷，提高生產(chǎn)效率和質(zhì)量。

根據(jù)中研普華研究院撰寫(xiě)的《2024-2029年中國(guó)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)行業(yè)市場(chǎng)需求分析及投資前景預(yù)測(cè)研究報(bào)告》顯示：

自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)行業(yè)市場(chǎng)需求分析、趨勢(shì)分析

自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(automated optical inspection, AOI)技術(shù)，也稱(chēng)為機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)(machine vision inspection, MVI)技術(shù)或自動(dòng)視覺(jué)檢測(cè)(automated visual inspection, AVI)技術(shù)。在有些行業(yè)，如平板顯示、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能等制造行業(yè)，AOI這一術(shù)語(yǔ)更加流行，被人知曉。但是AOI和MVI/AVI在概念和功能上還是有細(xì)微差別的。從狹義上來(lái)說(shuō)，MVI是一種集成了圖像傳感技術(shù)、數(shù)據(jù)處理技術(shù)、運(yùn)動(dòng)控制技術(shù)，在工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中，執(zhí)行測(cè)量、檢測(cè)、識(shí)別和引導(dǎo)等任務(wù)的一種新興的科學(xué)技術(shù)。

MVI的基本原理可用如圖表，它采用光學(xué)成像方法(如相機(jī)，或者一個(gè)復(fù)雜的光學(xué)成像系統(tǒng))模擬人眼的的視覺(jué)成像功能，用計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)代替人腦執(zhí)行數(shù)據(jù)處理，最后把結(jié)果反饋給執(zhí)行機(jī)構(gòu)(如機(jī)械手)代替人手完成各種規(guī)定的任務(wù)。

從廣義上來(lái)說(shuō)，MVI是一種模擬和拓展人類(lèi)眼、腦、手的功能的一種技術(shù)，在不同的應(yīng)用領(lǐng)域其定義可能有著細(xì)微的差別，但都離開(kāi)不了兩個(gè)根本的方法與技術(shù)，即從圖像中獲取所需信息，然后反饋給自動(dòng)化執(zhí)行機(jī)構(gòu)完成特定的任務(wù)。

可以說(shuō)基于任何圖像傳感方法(如可見(jiàn)光成像、紅外成像、X光成像、超聲成像等等)的自動(dòng)化檢測(cè)技術(shù)都可以認(rèn)為是MVI或AVI。當(dāng)采用光學(xué)成像方法時(shí)，MVI實(shí)際上就變?yōu)锳OI。因此AOI可以認(rèn)為是MVI的一種特例。

根據(jù)成像方法的不同，AOI又可分為三維(3D)AOI和二維(2D)AOI，三維AOI 主要用于物體外形幾何參數(shù)的測(cè)量、零件分組、定位、識(shí)別、機(jī)器人引導(dǎo)等場(chǎng)合; 二維AOI主要用于產(chǎn)品外觀(guān)(色彩、缺陷等)檢測(cè)、不同物體或外觀(guān)分類(lèi)、良疵品檢測(cè)與分類(lèi)等場(chǎng)合。

其次，市場(chǎng)需求增長(zhǎng)也是推動(dòng)AOI行業(yè)發(fā)展的重要因素。隨著電子制造、半導(dǎo)體、平板顯示等行業(yè)的快速發(fā)展，對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率的要求越來(lái)越高。AOI設(shè)備作為一種高效、準(zhǔn)確的檢測(cè)手段，受到了這些行業(yè)的廣泛關(guān)注和采用。

此外，應(yīng)用領(lǐng)域的拓展也為AOI行業(yè)的發(fā)展提供了廣闊的空間。除了傳統(tǒng)的電子制造領(lǐng)域，AOI設(shè)備還開(kāi)始應(yīng)用于新能源、汽車(chē)制造、醫(yī)療等領(lǐng)域。這些新興領(lǐng)域?qū)OI設(shè)備的需求不斷增長(zhǎng)，為行業(yè)的發(fā)展提供了新的動(dòng)力。

自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)細(xì)分市場(chǎng)

四探針測(cè)試儀是用來(lái)測(cè)量半導(dǎo)體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻等的測(cè)量?jī)x器。 測(cè)量半導(dǎo)體電阻率方法的測(cè)量方法主要根據(jù)摻雜水平的高低，半導(dǎo)體材料的電阻率可能很高。有多種因素會(huì)使測(cè)量這些材料的電阻率的任務(wù)復(fù)雜化，包括與材料實(shí)現(xiàn)良好接觸的問(wèn)題。特殊的探頭設(shè)計(jì)用于測(cè)量半導(dǎo)體晶片和半導(dǎo)體棒的電阻率。這些探頭通常由諸如鎢的硬質(zhì)金屬制成，并接地到探頭。在這種情況下，接觸電阻很高，必須使用四點(diǎn)共線(xiàn)探針或四線(xiàn)絕緣探針。兩個(gè)探針提供恒定電流，另外兩個(gè)探針測(cè)量整個(gè)樣品一部分的電壓降。通過(guò)使用所測(cè)電阻的幾何尺寸來(lái)計(jì)算電阻率。

薄膜應(yīng)力作為半導(dǎo)體制程、MEMS微納加工、光電薄膜鍍膜過(guò)程中性能測(cè)試的必檢項(xiàng)，其測(cè)試的精度、重復(fù)性、效率等因素為業(yè)界所重點(diǎn)關(guān)注。對(duì)應(yīng)產(chǎn)品目前業(yè)界有兩種主流技術(shù)流派：1)以美國(guó)FSM、KLA、TOHO為代表的雙激光波長(zhǎng)掃描技術(shù)(線(xiàn)掃模式)，盡管是上世紀(jì)90年代技術(shù)，但由于其簡(jiǎn)單高效，適合常規(guī)Fab制程中進(jìn)行快速Q(mào)C，至今仍廣泛應(yīng)用于相關(guān)工廠(chǎng)。2)以美國(guó)kSA為代表的MOS激光點(diǎn)陣技術(shù)，抗環(huán)境振動(dòng)干擾，精于局部區(qū)域內(nèi)應(yīng)力測(cè)量，這在研究局部薄膜應(yīng)力均勻分布具有特定意義。線(xiàn)掃模式主要測(cè)量晶圓薄膜整體平均應(yīng)力，監(jiān)控工序工藝的重復(fù)性有意義。但在監(jiān)控或精細(xì)分析局部薄膜應(yīng)力，激光點(diǎn)陣技術(shù)具有特殊優(yōu)勢(shì)，比如在MEMS壓電薄膜的應(yīng)力和缺陷監(jiān)控。

紅外光譜儀是利用物質(zhì)對(duì)不同波長(zhǎng)的紅外輻射的吸收特性，進(jìn)行分子結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成分析的儀器。紅外光譜儀通常由光源，單色器，探測(cè)器和計(jì)算機(jī)處理信息系統(tǒng)組成。根據(jù)分光裝置的不同，分為色散型和干涉型。對(duì)色散型雙光路光學(xué)零位平衡紅外分光光度計(jì)而言，當(dāng)樣品吸收了一定頻率的紅外輻射后，分子的振動(dòng)能級(jí)發(fā)生躍遷，透過(guò)的光束中相應(yīng)頻率的光被減弱，造成參比光路與樣品光路相應(yīng)輻射的強(qiáng)度差，從而得到所測(cè)樣品的紅外光譜。 紅外光譜法操作簡(jiǎn)單，不破壞樣品，使其在半導(dǎo)體分析的應(yīng)用日趨廣泛。半導(dǎo)體材料的紅外光譜揭示了晶格吸收、雜質(zhì)吸收和自由載流子吸收的情況，直接反映了半導(dǎo)體的許多性質(zhì)，如確定紅外透過(guò)率和結(jié)晶缺陷，監(jiān)控外延工藝氣體組分分布，測(cè)載流子濃度，測(cè)半導(dǎo)體薄層厚度和襯底表面質(zhì)量。

自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)行業(yè)趨勢(shì)

AOI設(shè)備的需求將持續(xù)增長(zhǎng)。特別是在電子制造、半導(dǎo)體、平板顯示等關(guān)鍵領(lǐng)域，AOI設(shè)備的應(yīng)用將更加廣泛。預(yù)計(jì)未來(lái)幾年，全球AOI市場(chǎng)規(guī)模將繼續(xù)保持增長(zhǎng)態(tài)勢(shì)。

隨著計(jì)算機(jī)視覺(jué)、機(jī)器學(xué)習(xí)、人工智能等技術(shù)的快速發(fā)展，AOI設(shè)備的性能將進(jìn)一步提升。更精確的圖像識(shí)別、更高的檢測(cè)速度、更強(qiáng)的自我學(xué)習(xí)和適應(yīng)能力，將是未來(lái)AOI設(shè)備的重要發(fā)展方向。

目前，AOI主要應(yīng)用于電子產(chǎn)品檢測(cè)，但隨著技術(shù)的進(jìn)步和市場(chǎng)的拓展，其應(yīng)用領(lǐng)域?qū)⒅饾u擴(kuò)大。例如，在汽車(chē)制造、新能源、醫(yī)療器械等領(lǐng)域，AOI設(shè)備都有望發(fā)揮重要作用。

為了推動(dòng)制造業(yè)的轉(zhuǎn)型升級(jí)，提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)力，各國(guó)政府可能會(huì)出臺(tái)相關(guān)政策，鼓勵(lì)和支持AOI等先進(jìn)檢測(cè)技術(shù)的應(yīng)用。這將為AOI行業(yè)的發(fā)展提供有力的政策保障。隨著AOI市場(chǎng)的擴(kuò)大，越來(lái)越多的企業(yè)將進(jìn)入這個(gè)領(lǐng)域，市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)將日趨激烈。

在激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中，企業(yè)及投資者能否做出適時(shí)有效的市場(chǎng)決策是制勝的關(guān)鍵。中研網(wǎng)撰寫(xiě)的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)行業(yè)報(bào)告對(duì)中國(guó)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)行業(yè)的發(fā)展現(xiàn)狀、競(jìng)爭(zhēng)格局及市場(chǎng)供需形勢(shì)進(jìn)行了具體分析，并從行業(yè)的政策環(huán)境、經(jīng)濟(jì)環(huán)境、社會(huì)環(huán)境及技術(shù)環(huán)境等方面分析行業(yè)面臨的機(jī)遇及挑戰(zhàn)。同時(shí)揭示了市場(chǎng)潛在需求與潛在機(jī)會(huì)，為戰(zhàn)略投資者選擇恰當(dāng)?shù)耐顿Y時(shí)機(jī)和公司領(lǐng)導(dǎo)層做戰(zhàn)略規(guī)劃提供準(zhǔn)確的市場(chǎng)情報(bào)信息及科學(xué)的決策依據(jù)，同時(shí)對(duì)政府部門(mén)也具有極大的參考價(jià)值。

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  自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(automated optical inspection, AOI)技術(shù)，也稱(chēng)為機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)(machine vision inspection, MVI)技術(shù)或自動(dòng)視覺(jué)檢測(cè)(automated visual inspection, AVI)技術(shù)。在有...

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